Pracownia Mikroskopii Elektronowej

Skaningowy mikroskop elektronowy (ang. scanning electron microscope – SEM) produkcji Zeiss Group, Niemcy, model EVO® LS 15. SEM jest urządzeniem do badania topografii powierzchni ciał stałych. Zaletą modelu są wysoka rozdzielczość obrazu oraz wszechstronnością przy badaniu różnorodnych typów próbek, w tym materiałów przewodzących i nieprzewodzących. Możliwości analityczne obejmują spektroskopię rentgenowską z dyspersją energii (EDS/EDX).

 

Parametry mikroskopu:

  • Powiększenie: 5 – 200000 x
  • Teoretyczna rozdzielczość: 3,5 nm (katoda wolframowa)
  • Detektory: SE, VPSE, BSD oraz detektor rentgenowski
  • Maksymalna wysokość oglądanej próbki: 145mm
  • Maksymalna średnica próbki: 250mm

Akcesoria:

  • EDX, X-max 60mm^2, Bruker Quantax 200 XFlash®, dla badan składu chemicznego.
     

W celu uzyskania dodatkowych informacji, prosimy o kontakt:

Dr inż. Vitalii Demeshkant

Starszy technik

71 320-5888

pracownia.sem@upwr.edu.pl